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Tesi di Niarchos, Vasilios

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[img] Vasilios Niarchos. Metodi di misura topografici per la caratterizzazione del danno d’usura da fretting e in applicazioni low-wear = Topographic measurement methods for the characterization of wear damage from fretting and in low-wear applications. Rel. Maurizio Galetto. Politecnico di Torino, Corso di laurea magistrale in Ingegneria Gestionale, 2021

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