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Tesi di Diallo, Elhadji Alhousseyni

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Elhadji Alhousseyni Diallo. Caractérisation électrique et fiabilité de la prochaine génération de transistors FDSOI = Electrical characterization and Reliability of next generation of FDSOI transistors. Rel. Carlo Ricciardi. Politecnico di Torino, Corso di laurea magistrale in Nanotechnologies For Icts (Nanotecnologie Per Le Ict), 2024

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