Sviluppo di una scheda di test unificata per il rilevamento precoce dei difetti degli interruttori = Development of a Unified Test Board for Early-Stage Switch Defect Detection
Koray Kaya
Sviluppo di una scheda di test unificata per il rilevamento precoce dei difetti degli interruttori = Development of a Unified Test Board for Early-Stage Switch Defect Detection.
Rel. Carlo Ricciardi. Politecnico di Torino, Corso di laurea magistrale in Nanotechnologies For Icts (Nanotecnologie Per Le Ict), 2025
