Il lavoro di tesi presentato si concentra sul test funzionale per i guasti di ritardo e indaga per possibili soluzioni. Per eseguire test funzionali su circuiti integrati, le librerie di autotest (STL) sono una delle tecniche ampiamente utilizzate. Queste librerie garantiscono che il processore si comporti correttamente, durante il suo periodo di vita operativa. Per quanto riguarda lo sviluppo degli STL per i guasti bloccati, una parte significativa degli sforzi richiesti dai tecnici di prova. Inoltre, lo sviluppo di librerie per i guasti di ritardo è ancora più formidabile. In questa tesi, viene proposto un metodo per automatizzare lo sviluppo degli STL, mirando ai guasti di ritardo, utilizzando gli STL disponibili per i guasti bloccati.