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Linewidth modelling and measurements of single mode-VCSELs

Marco Novarese

Linewidth modelling and measurements of single mode-VCSELs.

Rel. Francesco Bertazzi, Pierluigi Debernardi, Michele Goano, Alberto Tibaldi. Politecnico di Torino, Corso di laurea magistrale in Nanotechnologies For Icts (Nanotecnologie Per Le Ict), 2019