Soluzioni di test funzionali per delay faults nelle CPU

Il lavoro di tesi presentato si concentra sul test funzionale per i guasti di ritardo e indaga per possibili soluzioni. Per eseguire test funzionali su circuiti integrati, le librerie di autotest (STL) sono una delle tecniche ampiamente utilizzate. Queste librerie garantiscono che il processore si comporti correttamente, durante il suo periodo di vita operativa. Per quanto riguarda lo sviluppo degli STL per i guasti bloccati, una parte significativa degli sforzi richiesti dai tecnici di prova. Inoltre, lo sviluppo di librerie per i guasti di ritardo è ancora più formidabile. In questa tesi, viene proposto un metodo per automatizzare lo sviluppo degli STL, mirando ai guasti di ritardo, utilizzando gli STL disponibili per i guasti bloccati. Il metodo proposto si basa sull'identificazione dei guasti di ritardo di transizione che, sono eccitati ma non osservati. Quindi, aggiunge istruzioni appropriate che possono osservare e rilevare errori di ritardo di transizione. I risultati del test eseguito su un processore RISC-V illustrano che il metodo è adeguato per rilevare sistematicamente una percentuale significativa dei guasti mirati utilizzando un ragionevole sforzo di calcolo e un aumento della dimensione del codice di test.