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Sviluppo di una scheda di test unificata per il rilevamento precoce dei difetti degli interruttori = Development of a Unified Test Board for Early-Stage Switch Defect Detection

Koray Kaya

Sviluppo di una scheda di test unificata per il rilevamento precoce dei difetti degli interruttori = Development of a Unified Test Board for Early-Stage Switch Defect Detection.

Rel. Carlo Ricciardi. Politecnico di Torino, Corso di laurea magistrale in Nanotechnologies For Icts (Nanotecnologie Per Le Ict), 2025