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Characterization and Correction of Optical Aberrations in MINFLUX Superresolution Microscopy

Francisco Gilberto Matos Alvarez

Characterization and Correction of Optical Aberrations in MINFLUX Superresolution Microscopy.

Rel. Carlo Ricciardi. Politecnico di Torino, Corso di laurea magistrale in Nanotechnologies For Icts (Nanotecnologie Per Le Ict), 2023

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Abstract:
Relatori: Carlo Ricciardi
Anno accademico: 2023/24
Tipo di pubblicazione: Elettronica
Numero di pagine: 60
Soggetti:
Corso di laurea: Corso di laurea magistrale in Nanotechnologies For Icts (Nanotecnologie Per Le Ict)
Classe di laurea: Nuovo ordinamento > Laurea magistrale > LM-29 - INGEGNERIA ELETTRONICA
Aziende collaboratrici: Research Institute of Molecular Pathology GmbH
URI: http://webthesis.biblio.polito.it/id/eprint/28999
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