La crescente complessità di integrazione nei System on Chips, e soprattutto il loro utilizzo in nuove applicazioni ha stravolto il mondo del testing industriale e la complessità degli equipaggiamenti per il test. Il lavoro di tesi ha avuto come oggetto lo sviluppo di una centralina multicore in grado di realizzare il test del Burn-in su di un SoC automotive. Questo test mira a stimolare il device aumentando la switching activity dei vari gate che lo compongono, così da ottenere una stima della sua affidabilità e del suo comportamento in situazioni limite. La procedura implementata prevede che il device entri in test-mode attraverso la corretta configurazione del boundary-scan.