Federico Umberto Pertosa
Gate drivers with an improved short circuit detection method for enhanced SiC MOSFET reliability.
Rel. Francesco Musolino, Franco Maddaleno. Politecnico di Torino, Corso di laurea magistrale in Ingegneria Elettronica (Electronic Engineering), 2020
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- Tesi
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| Abstract: |
Gate drivers with an improved short circuit detection method for enhanced SiC MOSFET reliability |
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| Relatori: | Francesco Musolino, Franco Maddaleno |
| Anno accademico: | 2019/20 |
| Tipo di pubblicazione: | Elettronica |
| Numero di pagine: | 83 |
| Soggetti: | |
| Corso di laurea: | Corso di laurea magistrale in Ingegneria Elettronica (Electronic Engineering) |
| Classe di laurea: | Nuovo ordinamento > Laurea magistrale > LM-29 - INGEGNERIA ELETTRONICA |
| Ente in cotutela: | Aalborg University (DANIMARCA) |
| Aziende collaboratrici: | Aalborg University |
| URI: | http://webthesis.biblio.polito.it/id/eprint/14544 |
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