![[up]](/style/images/multi_up.png)
Up a levelRaggruppa per: Tipologia del documento | Nessun raggruppamento
Numero di pubblicazioni : 1.
-
Francesco Minichelli.
Machine Learning for Early Defect Detection in Automotive Semiconductors.
Rel. Riccardo Cantoro, Nicolo' Bellarmino. Politecnico di Torino, Corso di laurea magistrale in Ingegneria Elettronica (Electronic Engineering), 2024
