Raggruppa per: Tipologia del documento | Nessun raggruppamento
Numero di pubblicazioni : 1.
Calogero Brucculeri.
Advanced Functional Techniques for Delay Testing of Digital ICs = Advanced Functional Techniques for Delay Testing of Digital ICs.
Rel. Matteo Sonza Reorda, Michelangelo Grosso. Politecnico di Torino, Corso di laurea magistrale in Ingegneria Elettronica (Electronic Engineering), 2020
Up a level