Arcangela Perta
Influenza delle connessioni crimpate nelle prove di sovratemperatura = Influence of crimped connections in temperature rise tests.
Rel. Gianfranco Chicco, Paolo Emilio Roccato. Politecnico di Torino, Corso di laurea magistrale in Ingegneria Elettrica, 2018
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Abstract: |
Influenza delle connessioni crimpate nelle prove di sovratemperatura Lo scopo del seguente lavoro di tesi è quello di valutare come i capicorda compressi sui conduttori di prova, utilizzati nelle verifiche di sovratemperatura, possano influenzare la validazione delle apparecchiature elettriche soggette a tali verifiche. Può infatti accadere che, a causa di una non corretta crimpatura del capocorda o di un invecchiamento della stessa, la potenza termica dissipata dal cavo capicordato aumenti notevolmente. Ciò può portare ad un aumento della temperatura dell’apparecchiatura elettrica soggetta alla prova, al di sopra del limite previsto dalle norme; quindi ad un invalidazione della prova stessa. L’aumento della potenza termica dissipata dal conduttore di prova è proporzionale con l’aumento della resistenza elettrica di crimpatura del capocorda. Per tale ragione ci si pone l’obiettivo di valutare come vari la resistenza di crimpatura del capocorda, quando esso è sottoposto a stress meccanici e termici. La resistenza elettrica di crimpatura è stata valutata attraverso la misura della caduta di tensione tra il foro di ispezione del capocorda e l’inizio del conduttore cordato. Per riuscire nello scopo di questo lavoro c’è stato bisogno di compiere delle misure voltamperometriche e delle prove di sovratemperatura, che sono state eseguite presso il laboratorio Alte Tensioni e Forti correnti dell’INRiM (Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica). L’analisi del comportamento resistivo, della connessione capocorda-conduttore di prova sottoposta a stress meccanici e termici, è stata effettuata utilizzando uno schema di prova nel quale era presente un generatore di corrente che alimentava un solo conduttore di prova siglato CEI FG7R-O 0.6/1 KV 1x240 mm^2 CEI 20-2 e capicordato da entrambi i lati. Nelle prove di stress meccanico il conduttore di prova è stato sottoposto a torsione intorno al proprio asse di simmetria su una sola delle due estremità. Mentre, nelle prove termiche il conduttore di prova è stato sottoposto a cicli termici con correnti di qualche centinaia di ampere. Dai risultati è emerso che la resistenza elettrica di crimpatura è sicuramente sensibile agli stress meccanici, ma in percentuale inferiore rispetto agli stress termici. Inoltre, sono state fatte delle misure voltamperometriche anche su di una connessione saldata in stagno soggetta a stress torsionali. Da queste misure è emersa una totale insensibilità della resistenza elettrica della connessione saldata agli stress meccanici. Infine, sono state realizzate delle prove di sovratemperatura su di un contattore con una corrente nominale di impiego di 400 A. La misura della temperatura raggiunta dall’apparecchiatura in prova è stata effettuata in corrispondenza dei terminali del contattore. I risultati di queste prove finali hanno evidenziato che per una differenza di circa 20 μΩ della resistenza di crimpatura si ha una differenza di temperatura raggiunta ai terminali del contattore di 7 K. Le prove hanno quindi confermato che la resistenza elettrica di una connessione crimpata può influire sulla validazione dell’oggetto in prova. Per prevenire ciò bisognerebbe effettuare dei controlli periodici dei conduttori capicordati presenti in un laboratorio di prova, durante i quali misurare la resistenza di crimpatura delle connessioni compresse in modo tale da comprendere quale sia lo stato di ammaloramento dei capicorda. Una volta fatto ciò decidere se sostituire o meno il capocorda o |
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Relators: | Gianfranco Chicco, Paolo Emilio Roccato |
Academic year: | 2018/19 |
Publication type: | Electronic |
Number of Pages: | 94 |
Subjects: | |
Corso di laurea: | Corso di laurea magistrale in Ingegneria Elettrica |
Classe di laurea: | New organization > Master science > LM-28 - ELECTRICAL ENGINEERING |
Aziende collaboratrici: | INRIM Ist.Nazionale Ricerca Metrologica |
URI: | http://webthesis.biblio.polito.it/id/eprint/9175 |
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