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In-depth exploration of digital ICs: reverse engineering and hardware security analysis

Evan Remy

In-depth exploration of digital ICs: reverse engineering and hardware security analysis.

Rel. Candido Pirri. Politecnico di Torino, Corso di laurea magistrale in Nanotechnologies For Icts (Nanotecnologie Per Le Ict), 2018

Abstract:

Al giorno d’oggi, i circuiti integrati sono presenti pressoché dappertutto attorno a noi, dai più semplici dispositivi elettronici fino ad applicazioni delicate come le transazioni bancarie. Questa ubiquità ha attirato l’interesse degli hacker e spinto i costruttori a progettare nuove misure di sicurezza per proteggere i loro prodotti. Una battaglia feroce è in atto tra la comunità hacker, che cerca continuamente di trovare e sfruttare falle nelle misure di sicurezza, e i fabbricanti, che ne creano incessantemente di nuove. In questo contesto cresce dunque, da diversi anni, il bisogno di stimare il livello di si- curezza dei circuiti presenti sul mercato. In questa tesi si dimostra come le conoscenze relative alle tecniche di hacking, applicate a metodologie di progetto dei sistemi digitali possano essere uno strumento estremamente efficace nella stime del livello di sicurezza dei circuiti integrati. Una prima parte introduttiva presenterà brevemente l’evoluzione delle misure di sicurezza a livello hardware e le diverse classi di attacchi note. In seguito, verrá esposto il processo messo a punto per valutare il livello di sicurezza di in circuito integrato, posando l’accento sulle tecniche invasive e in particolare l’utilizzo del reverse engineering per l’analisi dell’architettura del sistema, in vista di un eventuale attacco.

Relators: Candido Pirri
Academic year: 2018/19
Publication type: Electronic
Number of Pages: 45
Additional Information: Tesi secretata. Full text non presente
Subjects:
Corso di laurea: Corso di laurea magistrale in Nanotechnologies For Icts (Nanotecnologie Per Le Ict)
Classe di laurea: New organization > Master science > LM-29 - ELECTRONIC ENGINEERING
Aziende collaboratrici: Texplained
URI: http://webthesis.biblio.polito.it/id/eprint/9082
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