Alexandre Jean Leonid Deramond
ATE Test Program Validation on FPGA.
Rel. Carlo Ricciardi. Politecnico di Torino, Corso di laurea magistrale in Nanotechnologies For Icts (Nanotecnologie Per Le Ict), 2025
Abstract
I semiconduttori sono diventati la pietra angolare della tecnologia moderna, integrati in quasi tutti gli aspetti della nostra vita quotidiana. Tuttavia, con l’aumento della complessit`a tecnologica, la produzione su larga scala, il collaudo e la commercializzazione dei dispositivi a semiconduttore stanno diventando sempre pi`u difficili. I progetti dei chip integrano ormai fino a 150 milioni di componenti per millimetro quadrato, con dimensioni di incisione ridotte a poche decine di nanometri, rendendo essenziale la validazione dei circuiti integrati prima del tapeout. Nell’ingegneria del test, il testflow deve essere verificato prima della produzione di massa, ma l’hardware di sviluppo `e generalmente isponibile solo nelle fasi finali del ciclo di progettazione, una volta che il design `e stato completato.
Di conseguenza, il testflow non pu`o essere fisicamente validato durante le prime fasi di sviluppo
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