Marco Morena
Caratterizzazione modelli di test = Characterization of test models.
Rel. Matteo Sonza Reorda, Lorenzo Storace, Donato Catenazzo. Politecnico di Torino, Corso di laurea magistrale in Ingegneria Elettronica (Electronic Engineering), 2024
Abstract
L’esperienza di tesi si è svolta presso SPEA S.p.A., azienda che si occupa della realizzazione di macchinari di collaudo automatici per collaudare semiconduttori, circuiti elettronici e circuiti stampati di schede. Sono stato inserito nella divisione SPEA 3 con l’obiettivo di caratterizzare i modelli di test dei sistemi di collaudo 3030, T300 e 4080 utilizzati per collaudare alcuni componenti passivi (resistori e condensatori) e discreti (diodi e transistori) montati su schede elettroniche. Collaudare un componente elettronico passivo e/o discreto significa misurare una sua caratteristica elettrica (ad esempio la capacità di un condensatore, la tensione diretta di un diodo) e verificare se il valore ottenuto coincida con quanto dichiarato dal produttore del componente oggetto di collaudo.
Caratterizzare un modello di test significa verificare se la strategia di collaudo utilizzata sia adeguata a verificare la caratteristica elettrica di un determinato componente
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