Lorenzo Ottino
Capacità di Verifica con Auto-Test per un Microcontrollore Integrato tramite UVM e Firmware = Self-Checking Verification Capability for an Integrated Microcontroller by UVM and Firmware.
Rel. Maurizio Martina. Politecnico di Torino, Corso di laurea magistrale in Ingegneria Elettronica (Electronic Engineering), 2023
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Abstract
I sensori basati sulla tecnologia System-in-Package (SiP) sono ampiamente diffusi nel mercato dei Sistemi Embedded ed è previsto che le loro applicazioni crescano ulteriormente con la pervasività della tecnologia nella società. Nel corso degli anni la complessità della progettazione dei Sensori MEMS è aumentata a seguito di una serie di fattori, quali lo scaling tecnologico, i requisiti di prestazione, la gestione di sistemi sempre più a basso consumo e l’integrazione di funzionalità diversificate. Le soluzioni integrate facenti uso dei Sensori MEMS comprendono lo sviluppo e l’interfacciamento fra parti analogiche e parti digitali, per le quali viene richiesto di assolvere le computazioni desiderate su una varietà di differenti sorgenti di informazione.
Il Front-End analogico è responsabile di rilevazione, trasduzione e filtraggio delle grandezze fisiche in ingresso provenienti dai Sensori MEMS
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Aziende collaboratrici
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