Sviluppo di una scheda di test unificata per il rilevamento precoce dei difetti degli interruttori = Development of a Unified Test Board for Early-Stage Switch Defect Detection

Nel settore dell’elettronica di consumo ad alta produzione, l’individuazione pre- coce dei componenti difettosi è fondamentale per evitare scarti costosi. Questa tesi affronta l’inaffidabilità del processo di Incoming Quality Control (IQC) in Logitech per due interruttori ottici proprietari, Stealth e Hybrid. L’hardware di test legacy ha mostrato misure inaccurate e poco ripetibili, creando una criticità nella catena di qualità. È stata quindi sviluppata una soluzione meccatronica completa: una nuova Unified Board in grado di testare con precisione entrambi gli interruttori su un’unica PCB, un fixture meccanico per garantire ripetibilità, e una suite software con firmware embedded e GUI in Python che automatizza l’intera sequenza di test. Le mis- ure ad alta precisione dei parametri chiave—tensione VCE(off) e tempo di discesa (Tf)—sono eseguite tramite un oscilloscopio esterno. I test di validazione hanno dimostrato un’elevata ripetibilità e un’accurata rilevazione dei difetti su campioni rappresentativi. Verifiche mirate rispetto all’approccio precedente confermano che la soluzione soddisfa i requisiti di accuratezza e usabilità per l’IQC, aprendo la strada a una riduzione degli scarti e a un miglioramento della redditività di linea. Parole chiave: Incoming Quality Control, interruttore ottico, VCE(off), tempo di discesa, meccatronica, test.