Meriem Ben Ammar
Method and Implementation of a Test Interface at RTL Level Compliant with std IEEE 1687.
Rel. Carlo Ricciardi. Politecnico di Torino, NON SPECIFICATO, 2025
| Abstract: |
Per consentire un accesso standardizzato agli strumenti integrati in modalit`a di test, `e stata stabilita una metodologia di test a livello RTL riutilizzabile conforme all’IEEE 1687. Inizialmente, non era di sponibile alcun flusso finalizzato; in collaborazione con il fornitore EDA (Synopsys SHS), `e stato creato e convalidato un flusso operativo coerente. Prima di focalizzarsi sull’IEEE 1687, la metodologia `e stata esercitata sotto l’IEEE 1500 e verificata tramite simulazione sia a livello IP sia a livello TOP. Il flusso comprende due fasi: (i) livello IP: configurazione del file di ingresso, inserimento del test SHS a livello RTL e generazione e verifica dei pattern; (ii) livello TOP: inserimento RTL SHS e trasferimento dei pattern a livello TOP. Durante la migrazione verso l’IEEE 1687, sono state identificate delle limitazio ni nella versione attuale di SHS, in particolare un supporto incompleto per quanto descritto da ICL e i Segment Insertion Bits (SIB), che attualmente limitano i vantaggi attesi dell’IEEE 1687 rispetto all’IEEE 1500. Il fornitore ha riconosciuto il problema e una prossima versione di SHS dovrebbe ri solverlo. Nel frattempo, per sostenere il progetto SPIRIT, un SoC di radar automobilistico a segnali misti, sono stati integrati controller di test utilizzando l’IEEE 1500, consentendo un’immediata imple mentazione e preservando un chiaro percorso di migrazione verso l’IEEE 1687 quando sar`a disponibile il supporto completo degli strumenti. |
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| Relatori: | Carlo Ricciardi |
| Anno accademico: | 2025/26 |
| Tipo di pubblicazione: | Elettronica |
| Numero di pagine: | 51 |
| Informazioni aggiuntive: | Tesi secretata. Fulltext non presente |
| Soggetti: | |
| Corso di laurea: | NON SPECIFICATO |
| Classe di laurea: | Nuovo ordinamento > Laurea magistrale > LM-29 - INGEGNERIA ELETTRONICA |
| Aziende collaboratrici: | STMicroelectronics (Grenoble 2) SAS |
| URI: | http://webthesis.biblio.polito.it/id/eprint/37826 |
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