ATE Test Program Validation on FPGA

I semiconduttori sono diventati la pietra angolare della tecnologia moderna, integrati in quasi tutti gli aspetti della nostra vita quotidiana. Tuttavia, con l’aumento della complessit`a tecnologica, la produzione su larga scala, il collaudo e la commercializzazione dei dispositivi a semiconduttore stanno diventando sempre pi`u difficili. I progetti dei chip integrano ormai fino a 150 milioni di componenti per millimetro quadrato, con dimensioni di incisione ridotte a poche decine di nanometri, rendendo essenziale la validazione dei circuiti integrati prima del tapeout. Nell’ingegneria del test, il testflow deve essere verificato prima della produzione di massa, ma l’hardware di sviluppo `e generalmente isponibile solo nelle fasi finali del ciclo di progettazione, una volta che il design `e stato completato. Di conseguenza, il testflow non pu`o essere fisicamente validato durante le prime fasi di sviluppo. Gli FPGA, dispositivi hardware riprogrammabili capaci di emulare circuiti logici, possono essere utilizzati come sostituti del silicio finale. Questo rapporto esplora i limiti di tale sostituzione e mostra come l’integrazione di un FPGA in un sistema ATE consenta una validazione segmentata del testflow, in particolare per la logica digitale, la memoria e le applicazioni firmware, prima della disponibilit`a del silicio. Il apporto presenta inoltre le migliori pratiche per l’integrazione dell’FPGA su macchine di test e i risultati ottenuti sui protocolli validati.