Nino Harouna Viviand
Automazione del flusso ERC per microcontrollori STM32 = Automation of the ERC flow for STM32 microcontrollers.
Rel. Carlo Ricciardi. Politecnico di Torino, Corso di laurea magistrale in Nanotechnologies For Icts (Nanotecnologie Per Le Ict), 2024
Abstract: |
Da marzo ad agosto 2024, ho svolto il mio tirocinio per la tesi di Master presso la ST Microelectronics a Rousset sotto la supervisione di Yann Rebours, ingegnere di implementazione fisica. L’oggetto di questo tirocinio è l’automazione del flusso ERC (Electrical Rule Checks) per i microcontrollori STM32. Dopo aver effettuato una ricerca bibliografica sugli ERC, che sono test elettrici effettuati su un circuito a livello di transistor per rilevare potenziali danni, sovraconsumi o malfunzionamento, ho familiarizzato con gli strumenti ERC. Ho eseguito un test di flusso ERC su un chip della famiglia STM32 in fase di sviluppo. Questo mi ha permesso di identificare i punti deboli del flusso che lo rendono lento, noioso e inefficiente. Dopo aver individuato le aree da ottimizzare, ho progettato, testato e applicato le mie soluzioni, basate su script di automazione, un processo efficiente e riproducibile e un ambiente di lavoro semplice e personalizzabile. Il mio lavoro è stato svolto in collaborazione con il team di implementazione fisica e il team di supporto CAD. Come risultato di questo tirocinio, il flusso ERC sui microcontrollori STM32 è stato migliorato su base permanente, contribuendo più in generale a migliorare la qualità dei prodotti sviluppati dal dipartimento General Purpose Microcontrollers di ST Microelectronics . |
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Relatori: | Carlo Ricciardi |
Anno accademico: | 2024/25 |
Tipo di pubblicazione: | Elettronica |
Numero di pagine: | 34 |
Informazioni aggiuntive: | Tesi secretata. Fulltext non presente |
Soggetti: | |
Corso di laurea: | Corso di laurea magistrale in Nanotechnologies For Icts (Nanotecnologie Per Le Ict) |
Classe di laurea: | Nuovo ordinamento > Laurea magistrale > LM-29 - INGEGNERIA ELETTRONICA |
Aziende collaboratrici: | ST Microelectronics |
URI: | http://webthesis.biblio.polito.it/id/eprint/33774 |
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