Il continuo miglioramento delle misure di sicurezza informatica volte a proteggere i dispositivi da attacchi esterni rende indispensabile lo studio di nuovi approcci in grado di eluderli. La metodologia del “fault injection”, che consiste nell’introduzione sistematica di errori a livello software o hardware per estrarre informazioni sensibili, ha recentemente guadagnato popolarità grazie alla sua natura non invasiva. Tra le numerose tecniche adottate, gli attacchi hardware con raggi X hanno mostrato risultati promettenti grazie alla possibilità di focalizzare il fascio su scala nanometrica, permettendo di colpire specificamente i singoli transistor contenuti nei circuiti. Questa tipologia di attacchi è attualmente oggetto di ricerca presso il dipartimento di Cybersecurity del Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA) di Grenoble, dove è stata svolta la presente Tesi.