Development of an algorithm to improve the redundancy analysis in the tests of embedded non-volatile memories

Giorgio Insinga

Development of an algorithm to improve the redundancy analysis in the tests of embedded non-volatile memories.

Rel. Paolo Bernardi. Politecnico di Torino, Corso di laurea magistrale in Ingegneria Elettronica (Electronic Engineering), 2021

Abstract:
Relatori:	Paolo Bernardi
Anno accademico:	2020/21
Tipo di pubblicazione:	Elettronica
Numero di pagine:	40
Informazioni aggiuntive:	Tesi secretata. Fulltext non presente
Soggetti:
Corso di laurea:	Corso di laurea magistrale in Ingegneria Elettronica (Electronic Engineering)
Classe di laurea:	Nuovo ordinamento > Laurea magistrale > LM-29 - INGEGNERIA ELETTRONICA
Aziende collaboratrici:	Infineon Technologies Italia S.r.l.
URI:	http://webthesis.biblio.polito.it/id/eprint/17962

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