RELIABILITY ISSUES AMONG ANDROID COMPONENTS: ANALYSIS, TESTING AND SOLUTIONS

Vincenzo Chiaramida

RELIABILITY ISSUES AMONG ANDROID COMPONENTS: ANALYSIS, TESTING AND SOLUTIONS.

Rel. Antonio Lioy, Ugo Buy. Politecnico di Torino, Corso di laurea magistrale in Ingegneria Informatica (Computer Engineering), 2018

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Abstract:	Sicurezza nel Sistema Operativo Android per dispositivi mobile
Relatori:	Antonio Lioy, Ugo Buy
Anno accademico:	2017/18
Tipo di pubblicazione:	Elettronica
Numero di pagine:	77
Soggetti:
Corso di laurea:	Corso di laurea magistrale in Ingegneria Informatica (Computer Engineering)
Classe di laurea:	Nuovo ordinamento > Laurea magistrale > LM-32 - INGEGNERIA INFORMATICA
Ente in cotutela:	UNIVERSITY OF ILLINOIS AT CHICAGO (STATI UNITI D'AMERICA)
Aziende collaboratrici:	NON SPECIFICATO
URI:	http://webthesis.biblio.polito.it/id/eprint/8241

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