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Caratterizzazione modelli di test = Characterization of test models

Marco Morena

Caratterizzazione modelli di test = Characterization of test models.

Rel. Matteo Sonza Reorda, Lorenzo Storace, Donato Catenazzo. Politecnico di Torino, Corso di laurea magistrale in Ingegneria Elettronica (Electronic Engineering), 2024

Abstract:

L’esperienza di tesi si è svolta presso SPEA S.p.A., azienda che si occupa della realizzazione di macchinari di collaudo automatici per collaudare semiconduttori, circuiti elettronici e circuiti stampati di schede. Sono stato inserito nella divisione SPEA 3 con l’obiettivo di caratterizzare i modelli di test dei sistemi di collaudo 3030, T300 e 4080 utilizzati per collaudare alcuni componenti passivi (resistori e condensatori) e discreti (diodi e transistori) montati su schede elettroniche. Collaudare un componente elettronico passivo e/o discreto significa misurare una sua caratteristica elettrica (ad esempio la capacità di un condensatore, la tensione diretta di un diodo) e verificare se il valore ottenuto coincida con quanto dichiarato dal produttore del componente oggetto di collaudo. Caratterizzare un modello di test significa verificare se la strategia di collaudo utilizzata sia adeguata a verificare la caratteristica elettrica di un determinato componente. Per raggiungere l’obiettivo della tesi mi sono servito di una scheda elettronica di un cliente automotive. Per eseguire i test sui sistemi di collaudo si è generato in prima battuta un programma di collaudo completo di tutti i componenti. Una volta completata questa fase si è selezionato un campione di resistenze, di condensatori, di diodi e di transistori. Su ciascun sistema di collaudo per ogni tipologia di componente si sono creati vari programmi di collaudo, che si differenziano per il modello utilizzato, così da individuare quale sia il modello più adeguato ad effettuare il test su un determinato componente. Per fare ciò, le misure ottenute in fase di collaudo sono state utilizzate per determinare il valor medio, l’errore relativo, la deviazione standard e gli indici di capacità di un processo Cp e Cpk. Un modello si riterrà adeguato se l’errore relativo è inferiore alla tolleranza di misura del componente e se i Cp e Cpk sono maggiori rispettivamente di 2 e 1.33. Infine, si sono confrontati i risultati ottenuti sui diversi sistemi di collaudo, così da comprendere le differenze di comportamento di un modello sui differenti macchinari.

Relatori: Matteo Sonza Reorda, Lorenzo Storace, Donato Catenazzo
Anno accademico: 2024/25
Tipo di pubblicazione: Elettronica
Numero di pagine: 144
Informazioni aggiuntive: Tesi secretata. Fulltext non presente
Soggetti:
Corso di laurea: Corso di laurea magistrale in Ingegneria Elettronica (Electronic Engineering)
Classe di laurea: Nuovo ordinamento > Laurea magistrale > LM-29 - INGEGNERIA ELETTRONICA
Aziende collaboratrici: Spea SpA
URI: http://webthesis.biblio.polito.it/id/eprint/33013
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