An On-Chip Testing Platform for Characterizing Multi-Sensor Time-Mode Compressed Sensing Systems

Cristian Mastronardi

An On-Chip Testing Platform for Characterizing Multi-Sensor Time-Mode Compressed Sensing Systems.

Rel. Gianluca Setti, Anton Serdijn Wouter, Omer Can Akgun, Fabio Pareschi. Politecnico di Torino, Corso di laurea magistrale in Ingegneria Elettronica (Electronic Engineering), 2020

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Abstract:
Relatori:	Gianluca Setti, Anton Serdijn Wouter, Omer Can Akgun, Fabio Pareschi
Anno accademico:	2020/21
Tipo di pubblicazione:	Elettronica
Numero di pagine:	68
Soggetti:
Corso di laurea:	Corso di laurea magistrale in Ingegneria Elettronica (Electronic Engineering)
Classe di laurea:	Nuovo ordinamento > Laurea magistrale > LM-29 - INGEGNERIA ELETTRONICA
Ente in cotutela:	TU Delft (PAESI BASSI)
Aziende collaboratrici:	Technische Universiteit Delft
URI:	http://webthesis.biblio.polito.it/id/eprint/16777

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