La proliferazione dei dati è aumentata negli ultimi decenni, raddoppiando ogni anno dagli anni Ottanta. Il settore industriale è uno dei principali responsabili di questa esplosione di dati, soprattutto con l'avvento dell'Internet degli oggetti (IoT), che ha rivoluzionato la raccolta e il monitoraggio dei dati. Le immagini sono fondamentali per la produzione di semiconduttori. Le immagini ad alta risoluzione di chip e wafer, scattate con i microscopi, offrono informazioni visive dettagliate, essenziali per il rilevamento dei difetti e la garanzia di qualità. Analizzandole, è possibile identificare tendenze, caratteristiche e modelli che indicano l'esistenza di difetti. Questa tesi si concentra sul miglioramento del rilevamento dei difetti nella produzione di semiconduttori attraverso tecniche di rilevamento delle anomalie applicate alle immagini al microscopio di wafer di semiconduttori.